DIL 806 光學(xué)熱膨脹儀

技術(shù)

DIL 806 光學(xué)熱膨脹儀采用了創(chuàng)新的測量原理提升行動，使非傳統(tǒng)的熱膨脹實驗成為可能相貫通，并改善了許多傳統(tǒng)的測試

測量原理

DIL 806采用了陰影光的方法。在該方法中學習，通過測量CCD探測器上樣品的陰影來測量一個方向上樣品的絕對尺寸的大小技術。 高強度的GaN LED發(fā)出平面光，通過一個擴散單元和準直透鏡，產(chǎn)生高度均勻的結構重塑、短波平面光。該光的一部分被樣品阻擋空白區。有陰影的光束通過遠心光學(xué)系統(tǒng)進行精細處理貢獻法治，并由高分辨率的CCD探測器記錄。數(shù)字邊緣檢測自動確定陰影的寬度應用優勢，進而測定樣品的尺寸相對較高。

絕對測量的優(yōu)勢

DIL 806測量本質(zhì)上是一個絕對的測量，不受隨溫度程序變化的系統(tǒng)熱膨脹的影響分享。 只有樣品經(jīng)歷溫度的變化現場，光源和檢測器與這些變化相隔離。因此開展研究，測量是絕對的，不需要進行頂桿式膨脹儀使用中常見的特定測試的校準信息化。